Datenmengen und Übertragungsgeschwindigkeiten in internationalen Netzwerken steigen kontinuierlich an. In Datencentern ersetzen Glasfaserkabel dabei zunehmend die
klassischen Netzwerkkabel. Dadurch werden mehr Wandler erforderlich, die elektrische in optische Signale übersetzen. Diese Aufgabe übernehmen zunehmend photonisch integrierte Schaltkreise.

Die Jenoptik Optical Systems GmbH hat mit der UFO Probe®Card ein Bauteil entwickelt, das die schnelle Überprüfung dieser Schaltkreise auf ihre Güte ermöglicht. Bei klassischen Mikrochips erfolgen bereits seit Jahrzehnten die finalen Tests auf Waferebene, um vor der Weiterverarbeitung Fehler zu erkennen. Für photonisch integrierte Schaltkreise befindet sich hingegen das Test-Ökosystem noch im Aufbau. Bisherige Lösungen basieren auf Einzel-Prüfkarten, deren Einsatz mit Umrüstaufwand verbunden ist und die nicht zeitgleich betrieben werden können.

Die optoelektronische UFO Probe® Card hingegen ermöglicht ein paralleles Testen von elektrischen und optischen Komponenten mit nur einer Prüfkarte. Das spart wertvolle Zeit und erhöht die Durchlaufkapazität.

Zudem ist bei der Jenoptik-Neuentwicklung keine aktive Ausrichtung zu den optischen Schnittstellen des Schaltkreises nötig.

Ein von Jenoptik entwickelter Glaschip dient als Sender und Empfänger von optischen Signalen auf den Wafer.

Ein Patent ist bereits erteilt; sieben weitere sind in verschiedenen Regionen angemeldet. Die UFO Probe® Card ist kompatibel mit bisherigen Untersuchungsgeräten und erfordert deshalb keine Neuinvestitionen. Die Herstellung erfolgt in Jena und Dresden und kann problemlos an die jeweiligen Chipprojekte der Kunden angepasst werden.

Absatzpotenziale verspricht die Technologie künftig nicht nur bei der Produktion von Schaltkreisen für die Kommunikation, sondern auch für Quantencomputer und Lidar oder Biosensoren. Jenoptik arbeitet daran, die UFO Probe® Card auf spezielle Testsysteme zu adaptieren und noch höhere Durchsatzraten durch das Paralleltesten mehrerer Chips zu erzielen.